EDX4500 X熒光光譜儀

X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。

EDX4500X熒光光譜儀對于解決鋼鐵企業(yè)對冶煉時爐前分析和鋼鐵成品中的元素成份分析有著獨(dú)TE的優(yōu)勢。

鋼鐵廠為例使用XRF技術(shù)前后的效率對比表

該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行精確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。

應(yīng)用領(lǐng)域

鋼鐵檢測、鐵合金全元素分析、有害元素檢測。

產(chǎn)品性能參數(shù)

測量元素范圍: 鈉（Na)~鈾（U)

元素含量分析范圍: ppm ~ 99.99%（不同材質(zhì)，分析范圍不同)

同時分析元素: 一次性可測幾十種元素

分析精度: 0.05%(含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性)

測量時間: 60秒~200秒

探測器能量分辨率為: 145±5ev

管壓: 5KV ~ 50KV

管流: 50uA~1000uA

測量對象狀態(tài): 粉末、固體、液體

輸入電壓: AC 110V/220V

環(huán)境溫度: 15℃ ~ 30℃

環(huán)境濕度: 35%~70%

樣品腔體積: 320mm × 100mm

外形尺寸: 660mm × 510mm × 350mm

重量: 65Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探測器

數(shù)字多道技術(shù)

信噪比增強(qiáng)器SNE

鋼鐵行業(yè)測試專用配件

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭

自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片

自動穩(wěn)譜裝置

三重安全保護(hù)模式

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)

90mm x 70mm的狀態(tài)顯示液晶屏

真空泵

性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際先jin水平

最新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高，在合金檢測中效果更好

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

儀器專li產(chǎn)品一一信噪比增強(qiáng)器(SNE)，提高信號處理能力25倍以上

低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍

自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性

高信噪比的電子線路單元

針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣

解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制

內(nèi)置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)〔管壓、管流、真空度)一目了然

軟件介紹

中英語言自動切換，客戶可按需自行添加其它語種

人性化界面設(shè)計(jì)，視窗美觀合理

任意多工作區(qū)、工作曲線存儲功能，便于分析各類樣品

高斯、凈面積、全面積、元素?cái)M合等光譜強(qiáng)度計(jì)算方法任意選擇

極其靈敏的元素自動識別系統(tǒng)

檢測實(shí)例與數(shù)據(jù)

EDX 4500測不銹鋼國標(biāo)樣Cr、Mn、Ni、Cu、Mo數(shù)據(jù)